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Hexagon Metrology高性能三維掃描探測(cè)系統(tǒng)LSP-X1
- 品牌：Hexagon Metrology
- 型號(hào)：LSP-X1
- 閱讀次數(shù)：9553
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產(chǎn)品介紹
新型的LSP-X1 掃描測(cè)頭，既能夠提供高精度測(cè)頭的精密計(jì)量工具，又能夠和TESASTAR-m 自動(dòng)分度測(cè)座完美匹配。點(diǎn)到點(diǎn)和連續(xù)掃描兩種模式都能夠全面兼容，是中等尺寸的楞邊復(fù)雜型和曲面復(fù)雜型工件的理想檢測(cè)方案。LSP-X1具有兩種吸盤，并且可以支持長達(dá)220mm 以內(nèi)的各種探針。吸盤的自動(dòng)更換可以通過TESASTAR-r 自動(dòng)更換架實(shí)現(xiàn)，也可以通過專門的支架僅僅更換探針。這種磁吸測(cè)頭系統(tǒng)能夠快速和高重復(fù)性的完成更換。
規(guī)格參數(shù)
- 超長探針
允許探測(cè)工件內(nèi)部的深孔等特征。包括自動(dòng)重量平衡系統(tǒng)。
- 自動(dòng)探針更換功能
在測(cè)量過程中執(zhí)行自動(dòng)探針更換，而不需要重新校準(zhǔn)。探針的磁力吸盤保證了快速而精確的更換。
- 具備碰撞保護(hù)功能
在發(fā)生誤碰撞的情況下保護(hù)測(cè)座。使得測(cè)量系統(tǒng)的工作時(shí)間達(dá)到最大化，并降低了擁有成本。
接觸工件表面時(shí)，測(cè)頭會(huì)自動(dòng)沿著工件表面的法矢量進(jìn)行測(cè)量。通過線性可變微分傳感器(LVDT)探測(cè)偏差，即使使用長的加長桿，也可以對(duì)探針的彎曲進(jìn)行準(zhǔn)確補(bǔ)償。這一特性減少了余弦誤差，確保了更高的測(cè)量精度和效率，這對(duì)檢測(cè)復(fù)雜幾何體如齒輪、轉(zhuǎn)子和葉片等是至關(guān)重要的。
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