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AURIGA Laser 與電子顯微鏡組合可以實現高速且精細的材料刻蝕。使用脈沖激光束在最短時間內刻蝕樣品材料。借助聚焦離子束精準地對感興趣的樣品區(qū)域進行重新加工。在同一系統內充分發(fā)揮 FIB-SEM 的成像品質。
您能夠在同一系統中創(chuàng)建高分辨納米級圖像,使用 X 射線分析功能檢測樣品。同時還能夠在最短時間內處理非導電材料樣品及其復雜的幾何結構。只需一步操作便能獲得所有需要的信息。
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