當(dāng)前所在位置: 首頁(yè) > 產(chǎn)品首頁(yè) >檢測(cè)、測(cè)量 、自動(dòng)化、工業(yè)IT >檢查和檢測(cè) >紅外照相機(jī)/紅外掃描儀 >OPTO DIODE紅外探測(cè)器BXP
B 系列單通道紅外探測(cè)器為分析 1 到 5 微米光譜的材料提供了性能和屬性的良好平衡。 高靈敏度、快速響應(yīng)時(shí)間和可靠性相結(jié)合,可確保在需要的時(shí)間和地點(diǎn)保持一致的性能。高靈敏度大限度地提高了痕量元素應(yīng)用的測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍。 B 系列快速響應(yīng)時(shí)間可輕松支持實(shí)時(shí)測(cè)量。 高耐用性和長(zhǎng)壽命將維修和維護(hù)成本降至低。 以優(yōu)化系統(tǒng)性能為目標(biāo),Opto Diode 致力于提供高質(zhì)量、可靠的產(chǎn)品。提供多種標(biāo)準(zhǔn)配置,客戶可以選擇各種選項(xiàng),例如元件尺寸、冷卻替代方案和封裝類型,以適應(yīng)各種系統(tǒng)和應(yīng)用要求。 冷卻單元為非常低電平的信號(hào)檢測(cè)提供額外的靈敏度,并在溫度不斷變化的環(huán)境中增強(qiáng)穩(wěn)定性。
1-5 微米區(qū)域內(nèi)的快速高靈敏度
為寬測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍提供高信噪比性能
中紅外應(yīng)用的快響應(yīng)速度
高可靠性,長(zhǎng)壽命
1-5 微米光譜的良好整體性能
Copyright? 2013-2024 天津西納智能科技有限公司 版權(quán)所有
電話:400-9619-005
傳真:400-9619-005
聯(lián)系人:余子豪 400-9619-005
郵箱:sales@e-xina.com
地址:天津市和平區(qū)南京路235號(hào)河川大廈A座22D
掃描微信二維碼關(guān)注我們