ELECTRONICA3D系統(tǒng)TRACKSCAN P42

TrackScan-P42 3D系統(tǒng)采用智能光學(xué)跟蹤測量技術(shù)和高品質(zhì)光學(xué)設(shè)備。無需標(biāo)記即可進(jìn)行高精度動態(tài)3D測量。該3D系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程等。

通過自由切換多種工作模式，TrackScan-P42可以滿足不同的掃描情況。17 條交叉藍(lán)色激光線可實(shí)現(xiàn) 1,900,000 次測量/秒的超快掃描速度和流暢的體驗(yàn)。7 條平行的藍(lán)色激光線用于細(xì)節(jié)捕捉。單條藍(lán)色激光線旨在快速采集深孔和死角位置的3D數(shù)據(jù)。配備的無線便攜式CMM T-Probe提供靈活的測量，并準(zhǔn)確捕捉間隙、孔位、凹槽和復(fù)雜表面的高精度3D數(shù)據(jù)。 通過與機(jī)械臂配合，TrackScan-P42還可以實(shí)現(xiàn)智能在線自動化3D檢測。

快速掃描模式：17 條藍(lán)色激光十字

精細(xì)掃描模式：7條 藍(lán)色平行激光線

大面積掃描：11條平行紅外激光線

激光線：共42條

精度：0.025 mm

掃描速率：1,900,000 次測量/秒

掃描區(qū)域：310 mm × 350 mm

激光等級：ClassⅡ（人眼安全）

分辨率：0.020 mm

體積精度 - 9.1 m³：0.064 mm

體積精度 - 16.6 m³：0.078 mm

體積精度 - 使用 MSCAN-L15 攝影測量系統(tǒng)：0.044 mm + 0.015 mm/m

便攜式 CMM T-Probe-可選：支持

便攜式 CMM T-Probe-單點(diǎn)重復(fù)精度：0.030 mm

零件尺寸范圍（推薦）：200 ~ 6000 mm

隔離距離：300 mm

景深：320 mm

輸出格式：.stl、.ply、.obj、.igs、wrl、.xyz、.dae、.fbx、.ma、.asc 或自定義

工作溫度范圍：-10 ~ 40℃

接口方式：USB 3.0

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