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HTOL(高溫工作壽命)是一種測(cè)試方法,旨在在較長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)對(duì)設(shè)備施加壓力,從而可以計(jì)算設(shè)備的長(zhǎng)期可靠性。該測(cè)試適用于廣泛的元件制造應(yīng)用,尤其是 IC 制造商,包括放大器、濾波器和收發(fā)器。該概念需要一個(gè)高功率信號(hào)源和一個(gè)射頻分配器系統(tǒng),以在大量 DUT(被測(cè)設(shè)備)通道上并行分配測(cè)試信號(hào),從而可以對(duì)可靠性進(jìn)行統(tǒng)計(jì)上的計(jì)算。
HTOL-700-2700-1W 是一款現(xiàn)成的集成測(cè)試系統(tǒng),專為 HTOL/老化測(cè)試應(yīng)用而設(shè)計(jì)。完整的設(shè)置在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的 19 英寸機(jī)柜中提供,能夠在 700-2700 MHz 頻段以 1W 的功率驅(qū)動(dòng) 80 個(gè)并行 DUT。信號(hào)源可通過(guò) USB 或以太網(wǎng)控制(支持 HTTP 和 Telnet 網(wǎng)絡(luò)協(xié)議)。提供完整的軟件支持,包括我們用于 Windows 的用戶友好的 GUI 應(yīng)用程序和帶有 Windows 和 Linux 環(huán)境編程說(shuō)明的完整 API。
電源:交流電源輸入(90-260 V,47-63 Hz)
工作溫度:0 至 +50 ºC
射頻連接器
控制板:前面板
連接器:SMA 母頭
數(shù)量:80
功能:被測(cè)設(shè)備連接
尺寸:19” (W) x 37U (H) x 20” (D)
高溫工作壽命 (HTOL)
大功率老化/射頻壓力測(cè)試
半導(dǎo)體/元件鑒定
大功率信號(hào)源和分配
EMC/EMI 測(cè)試
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